Optimiertes MEMS-FPI-Design verbessert Signal-Rausch-Verhältnis und Streulichtunterdrückung
Hamamatsu Photonics präsentiert auf der electronica 2026 eine überarbeitete Generation seiner MEMS-FPI-Spektroskopiemodule für den kurzwelligen Infrarotbereich (SWIR). Die kompakten Sensoren bieten ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis sowie eine effektivere Streulichtunterdrückung und ermöglichen dadurch eine präzisere und zuverlässigere Materialanalyse.
SWIR-Spektroskopie gewinnt in zahlreichen Industriebereichen zunehmend an Bedeutung. Sie ermöglicht die zerstörungsfreie Analyse von Materialien und unterstützt Unternehmen dabei, Qualitätskontrollen zu optimieren, Produktionsprozesse effizienter zu gestalten und Ressourcen gezielter einzusetzen. Anwendungen reichen von der Lebensmittelinspektion über die Recycling- und Kreislaufwirtschaft bis hin zur Prozessüberwachung in der industriellen Fertigung.
Durch das optimierte MEMS-FPI-Design liefern die neuen Module eine höhere Messqualität bei gleichzeitig kompakter Bauweise. Damit eignen sie sich insbesondere für kosten- und platzkritische Anwendungen, bei denen eine zuverlässige Materialerkennung und Analyse erforderlich sind.
Besucher der electronica erhalten am Hamamatsu-Stand Einblicke in aktuelle Entwicklungen der SWIR-Technologie und deren Einsatzmöglichkeiten für Qualitätskontrolle, Materialidentifikation und nachhaltigere Produktionsprozesse.
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Rita Fritsch
presse@hamamatsu.de
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