Innovative Testsysteme zur Charakterisierung von Halbleiterbauelementen
mb-Technologies entwickelt Testsysteme zur Charakterisierung und für Zuverlässigkeitsmessungen von Halbleiterbauelementen.
Auf der electronica zeigen wir ein paralleles Package-Level Testsystem für TDDB, NBTI und HCI bis 400 V sowie einen Labormessplatz für Hochvoltmessungen mit unserer weltweit einzigartigen 3000 V Low-Leakage Switch-Matrix.
mb-Technologies
Dreikreuzweg 8, 8280 Fürstenfeld, Österreich
Kontakt Vertrieb
Herr Andreas Bauer
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